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Laser beam quality factor (M2) measured by distorted fresnel zone plates

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Author(s): R. Cortés | R. Villagómez | V. Coello | R. López

Journal: Revista Mexicana de Física
ISSN 0035-001X

Volume: 54;
Issue: 4;
Start page: 279;
Date: 2008;
Original page

Keywords: Rejillas de difracción óptica | láser Nd | YAG | calidad del haz

ABSTRACT
En este artículo, presentamos un método novedoso basado en óptica difractiva para medir M². Este nuevo arreglo óptico consiste de una lente con un conjunto de 1 o dos rejillas de difracción y un simple arreglo detector. Como resultado, este sistema produce imágenes simultáneas, de un número de diferentes planos-objeto centrados a lo largo del eje de propagación simétricamente a la cintura del haz láser. Estas imágenes son colectadas simultáneamente en una sola imagen mediante una cámara CCD generando en una sola imagen y después de algún procesamiento de la imagen, una medición instantánea para la calidad del haz láser. Esta técnica permite la posibilidad de monitorear en tiempo real la calidad del haz en un modo de operación continuo o pulso a pulso. Hoy en día, el maquinado con láser de alta potencia es una técnica estándar en la manufactura para el procesamiento de materiales. Aunque estos láseres no son siempre estables durante largos períodos de tiempo, el cual es requerido en esta clase de procesos, la mayoría de las veces diagnosticar y poner de nuevo a trabajar lleva un tiempo significativo. El parámetro M² es una expresión numérica para la calidad del haz láser que puede ser medida en tiempo real en un proceso en línea. Sin embargo para medir el parámetro M², varias mediciones en la vecindad de la cintura del haz láser son requeridas.
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